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    膜厚儀 鍍層厚度檢測儀

    膜厚儀 鍍層厚度檢測儀

    簡要描述:

    膜厚儀 鍍層厚度檢測儀: Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

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    • 企業(yè)類型:制造商
    • 新舊程度:
    • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
    • 環(huán)境溫度:15℃-30℃
    • 管流:50μA-1000μA
    • 儀器重量:75KG
    • 元素分析:硫(S)到鈾(U)
    • 精度:0.005mm

    X射線熒光光譜儀特點(diǎn)X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短,頻率很高,其波長約為(20~0.06)×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時發(fā)出來的,而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時發(fā)射出來的。X射線在電場磁場中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流,因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。 

    X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識譜兩部分組成 ,標(biāo)識譜重疊在連續(xù)譜背景上,連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射,其短波極限λ 0 由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),e為電子電量,c為真空中的光速。標(biāo)識譜是由一系列線狀譜組成,它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,每種元素各有一套特定的標(biāo)識譜,反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強(qiáng)度的連續(xù)譜X射線,現(xiàn)已成為重要的X射線源。 

    X射線熒光光譜儀的X射線具有很高的穿透本領(lǐng),能透過許多對可見光不透明的物質(zhì),如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發(fā)生可見的熒光,使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng),波長越短的X射線能量越大,叫做硬X射線,波長長的X射線能量較低,稱為軟X射線。當(dāng)在真空中,高速運(yùn)動的電子轟擊金屬靶時,靶就放出X射線,這就是X射線管的結(jié)構(gòu)原理。

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    天瑞Thick800A,Thick600,Thick8000,,EDX1800BS,EDX1800B系列產(chǎn)品是天瑞集多年鍍層行業(yè)的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的多款儀器,可全自動軟件操作,可多點(diǎn)測試,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),以及移動平臺。天瑞鍍層測厚儀功能強(qiáng)大,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。股票代碼為300165。

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      Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

    膜厚儀 鍍層厚度檢測儀性能優(yōu)勢

    精密的三維移動平臺
    的樣品觀測系統(tǒng)
    *的圖像識別 
    輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測
    四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換
    雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
    采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
    全自動智能控制方式,一鍵式操作!
    開機(jī)自動退出自檢、復(fù)位 
    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
    關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
    直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn) 
    點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

    膜厚儀 鍍層厚度檢測儀技術(shù)指標(biāo)

    分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
    同時檢測元素:24個元素,多達(dá)五層鍍層
    檢出限:可達(dá)2ppm,薄可測試0.005μm
    分析含量:一般為2ppm到99.9% 
    鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
    穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
    SDD探測器:分辨率低至135eV
    采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù),最小孔徑達(dá)0.1mm,最小光斑達(dá)0.1mm
    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
    準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
    Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
    儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
    樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
    樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
    X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
    X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 :小于0.1um
    操作環(huán)境濕度:≤90%
    操作環(huán)境溫度 15℃~30℃


    地址:深圳市寶安區(qū)松崗鎮(zhèn)江邊創(chuàng)業(yè)一路福興工業(yè)園
    18926776507
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