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    金屬電鍍膜厚測試儀

    金屬電鍍膜厚測試儀

    簡要描述:

    金屬電鍍膜厚測試儀:Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

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    • 企業(yè)類型:制造商
    • 新舊程度:全
    • 原產(chǎn)地:江蘇

    金屬電鍍膜厚測試儀

    電鍍是國民經(jīng)濟中必不可少的基礎(chǔ)工藝性行業(yè),同時又是重污染行業(yè)。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴重地影響人們的生活與健康。要提高電鍍企業(yè)的實力就必須從企業(yè)的硬件著手。而內(nèi)部管控測試是必不可少的環(huán)節(jié),其中產(chǎn)品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業(yè)廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質(zhì)在線檢測等更是重中之重。為此江蘇天瑞儀器股份有限公司基于強大的研發(fā)和應用能力特別為電鍍行業(yè)制定了一套有效的測試解決方案。

     

    1、儀器概述

        Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型高端儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

     

    2、金屬電鍍膜厚測試儀二手性能優(yōu)勢

    精密的三維移動平臺
    的樣品觀測系統(tǒng)
    *的圖像識別 
    輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
    四種微孔聚焦準直器,自動切換
    雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
    采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
    全自動智能控制方式,一鍵式操作!
    開機自動退出自檢、復位 
    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
    關(guān)蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
    直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
    點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

    3、技術(shù)指標

    分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
    同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
    檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
    分析含量:一般為2ppm到99.9% 
    鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
    穩(wěn)定性:可達0.1%
    SDD探測器:分辨率低至135eV
    采用*的微孔準直技術(shù),小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
    準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
    Ф0.3mm四種準直器組合
    儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
    樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
    樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
    X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
    X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
    操作環(huán)境濕度:≤90%
    操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

    4、測試實例

    鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
    以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試,其測試位置如圖。

     

    銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖

     

    樣 品 名

    成分Ni(%)

    鍍層Ni(um)

    吊扣

    100

    19.321

    吊扣2#

    100

    19.665

    吊扣3#

    100

    18.846

    吊扣4#

    100

    19.302

    吊扣5#

    100

    18.971

    吊扣6#

    100

    19.031

    吊扣7#

    100

    19.146

    平均值

    100

    19.18314

    標準偏差

    0

    0.273409

    相對標準偏差

    0

    1.425257

    銅鍍鎳件測試值

    結(jié)論

    實驗表明,使用Thick800A 儀器對鍍件膜厚測試,結(jié)果準確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

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    Thick 8000 鍍層測厚儀

     

    1、儀器概述

        Thick 8000 鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型高端儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

    2、性能優(yōu)勢

    精密的三維移動平臺
    的樣品觀測系統(tǒng)
    *的圖像識別 
    輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
    四種微孔聚焦準直器,自動切換
    雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
    采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
    全自動智能控制方式,一鍵式操作!
    開機自動退出自檢、復位 
    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
    關(guān)蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
    直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
    點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結(jié)果

    3、技術(shù)指標

    分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
    同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
    檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
    分析含量:一般為2ppm到99.9% 
    鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
    穩(wěn)定性:可達0.1%
    SDD探測器:分辨率低至135eV
    采用*的微孔準直技術(shù),小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
    準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
    Ф0.3mm四種準直器組合
    儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
    樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
    樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
    X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
    X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
    操作環(huán)境濕度:≤90%
    操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

    4、測試實例

    在保證計數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素,大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。

     

    11次測量結(jié)果(Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下:

    次數(shù)

    Thick8000

    行業(yè)內(nèi)其他儀器

    1

    0.042

    0.0481

    2

    0.043

    0.0459

    3

    0.043

    0.0461

    4

    0.0412

    0.0432

    5

    0.0429

    0.0458

    6

    0.0436

    0.0458

    7

    0.0427

    0.0483

    8

    0.0425

    0.045

    9

    0.0416

    0.0455

    10

    0.0432

    0.0485

    11

    0.0422

    0.043

    平均值

    0.0425

    0.0459

    標準偏差

    0.0007

    0.0019

    相對標準偏差

    1.70%

    4.03%

    極差

    0.0024

    0.0055

    (1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析;
    (2)重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測、水質(zhì)在線監(jiān)測可進行快速檢測,檢測環(huán)境里的重金屬是否超標。
    同時具有以下特點
    快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
    方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上*的電制冷半導體探測器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
    無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
    直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
    測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
    可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
    滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種*的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
    性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
    簡易:對人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。


    地址:深圳市寶安區(qū)松崗鎮(zhèn)江邊創(chuàng)業(yè)一路福興工業(yè)園
    18926776507
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